Tìm kiếm sản phẩm, giải pháp, trường hợp...
Quang phổ kế

Quang phổ kế

Phân tích thành phần

Thiết bị phân tích thành phần vật liệu kim loại, có thể phát hiện chính xác hàm lượng thành phần hóa học của vật liệu.

Thông số kỹ thuật
检测时间: 5-60秒 检测精度: ±0.01% 元素范围: C-U 样品要求: 固体金属

Sử dụng công nghệ quang phổ tiên tiến, thực hiện kiểm tra nhanh không phá hủy, được ứng dụng rộng rãi trong phân tích vật liệu kim loại. Công nghệ huỳnh quang tia X (XRF) tiên tiến, không cần chuẩn bị mẫu, xác định chính xác hàm lượng hơn 30 nguyên tố trong kim loại trong vòng 5-30 giây, độ chính xác đạt cấp ppm, dễ dàng nhận biết mã hợp kim và tạp chất vi lượng.

Nguyên tố phát hiện:

  • Hợp kim gốc sắt (Fe, C, Si, Mn, v.v.)
  • Hợp kim gốc nhôm (Al, Cu, Mg, Zn, v.v.)
  • Hợp kim gốc đồng (Cu, Sn, Pb, Ni, v.v.)
  • Các nguyên tố kim loại khác

Thiết bị liên quan

Không có thiết bị liên quan